> 发布时间：2013-11-06来源：IC旗舰店-深圳市毅创辉电子旗下电子交易平台分类：新品介绍
AFA科技集成电路IC设备测试装置专利发行
AFA科技有限公司（台湾新竹）。下面引用由本发明所提供的背景信息通过以下方式获得的新闻编辑：“本发明涉及到集成电路IC器件的测试，在特定实施例中，测试具有惯性感应能力。“传统的IC测试设备，包括插座本体和盖子。所述插座本体具有在其中被测试的设备可以放置用于测试的空腔或嵌套。盖子上有敦促测试连接器的装置，防止当盖子被卡合在插座本体的压力块。在一个所谓的“蛤壳式”配置中，盖铰接到该块。夹具或剪辑可以被锁定盖块。一个测试程序使用这种传统的测试插座，需要很多步骤，其中一些机械复杂：一个取放工具拿起一个集成电路IC器件，并把它放入巢。被安置在所述插座本体的盖子。该盖的啮合（锁定）到身体。盖子是从人体取出的。拾取和放置工具，除去被测试器件从腔体和排序根据是否成功在测试循环中的资格。“测试中的MEMS器件的惯性传感能力，例如，要求的MEMS器件的可动期间此类设备的测试周期测试设备必须相应地被移动（倾斜，摇动，旋转），被测试装置固定在设备的能力。
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